Mercoledì 19 Giugno 2019 alle ore 9:30 in Aula S. Bobbio, sede di Ingegneria della Scuola Politecnica e delle Scienze di Base, Piazzale Tecchio 80, Napoli, GAMBETTI KENOLOGIA SRL, Università degli Studi di Napoli Federico II, CNR SPIN e Park System AFM organizzano congiuntamente un workshop su:
Advanced Scanning Probe Microscopy for Materials Characterization
Il programma è stato costruito con il contributo della comunità scientifica dell'area centro-sud, che porterà esperienze ed interessi diversi nei vari ambiti applicativi, anche con lavori effettuati con AFM di altri brand. Il focus principale della giornata sarà la condivisione delle diverse esperienze, che culminerà con una discussione sui più recenti trend di ricerca che utilizzano SPM. Il contributo che Park Systems ha voluto dare alla giornata comprende la dimostrazione di un AFM, il modello NX-10, con caratteristiche di compattezza, versatilità e facilità di utilizzo (grazie alla piattafroma SmartScan) che lo rendono particolarmente adatto alla ricerca.
L'evento è aperto a tutti gli interessati. Si prega di manifestare l'adesione via e-mail alla Sig.ra Stefania Fabbri Questo indirizzo email è protetto dagli spambots. E' necessario abilitare JavaScript per vederlo. , oppure telefonando al numero 02 90093082.